Благодаря постоянному развитию технологий тестирование чипов стало неотъемлемой частью многих отраслей промышленности. Рентгеновское оборудование, являющееся важным инструментом обнаружения чипов, привлекает все больше внимания людей.

Рентгенофлуоресцентный анализатор с дисперсией по длине волны — это высокотехнологичный продукт, разработанный нашей компанией, который обобщает опыт и уроки, извлеченные из разработки этого типа приборов в Китае на протяжении многих лет, а также поглощает и ссылается на передовые международные технологии. Благодаря глубоким промышленным исследованиям и разработкам все технические показатели производительности достигли уровня аналогичных международных продуктов.

Рентгеновская дефектоскопия — это метод неразрушающего контроля, позволяющий обнаруживать дефекты за счет использования способности рентгеновских лучей проникать в материал и ослаблять его.

Рентгеновская дефектоскопия — это метод неразрушающего контроля, позволяющий обнаруживать дефекты за счет использования способности рентгеновских лучей проникать в материал и ослаблять его.

В октябре 2023 года были выпущены «Спецификации калибровки для промышленных рентгеновских КТ-устройств» (JJF 2043-2023), в основном разработанные Ляонинским институтом метрологии, Даньдун Аолонг Радиация Инструмент Группа Ко., ООО. и Чжэцзянским институтом метрологии. и реализовано.