Комбинированный многофункциональный рентгеновский дифрактометр АЛ-Y3500

  • Китай Комбинированный многофункциональный рентгеновский дифрактометр АЛ-Y3500, производитель
Комбинированный многофункциональный рентгеновский дифрактометр АЛ-Y3500
  • Aolong
  • Даньдун
  • в течение 1 месяца
  • 500 шт один месяц

Комбинированный многофункциональный рентгеновский дифрактометр АЛ-Y3500 представляет собой высокопроизводительный и высокоточный рентгеновский дифрактометр отечественного производства в Китае и является ведущим проектом, объявленным Национальной комиссией по развитию и реформам.

X-ray Diffractometer

Применяется в различных областях анализа структуры материалов. Материалы, которые можно анализировать, включают: металлические материалы, неорганические материалы, композиционные материалы, органические материалы, наноматериалы, сверхпроводящие материалы; Статус материала включает в себя: образец порошка, образец блока, образец тонкой пленки и образец микроследов.

Широко используется в исследовательских областях, таких как глинистые минералы, цементные строительные материалы, экологическая пыль, химическая продукция, фармацевтика, асбест, горные минералы, полимеры и т. д.

X-ray

Особенности инструмента:


● Идеальное сочетание аппаратных и программных систем для удовлетворения потребностей ученых и исследователей в различных областях применения.


● Высокоточная система измерения угла дифракции для получения более точных результатов измерений.


● Высокостабильная система управления генератором рентгеновского излучения, обеспечивающая более стабильную точность повторных измерений.


● Различные функциональные аксессуары отвечают потребностям различных целей тестирования.


● Программируемое управление, интегрированная конструкция конструкции, простота эксплуатации и более эстетичный внешний вид инструмента.


● Идентификация одной или нескольких фаз в неизвестных образцах


● Количественный анализ известных фаз в смешанных образцах


● Анализ кристаллической структуры (структурный анализ Ритвельда)


● Изменение кристаллической структуры в нетрадиционных условиях (высокие и низкие температуры).


● Анализ образцов пленки, включая фазу пленки, толщину многослойной пленки, шероховатость поверхности и плотность заряда.


● Анализ образцов микрорайонов


● Анализ текстуры и напряжений металлических материалов



Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

Политика конфиденциальности

close left right