Принцип рентгеновского дифрактометра
Длина волны рентгеновских лучей аналогична расстоянию между атомными плоскостями внутри кристалла, и кристалл может служить пространственной дифракционной решеткой для рентгеновских лучей. Когда луч рентгеновских лучей облучается объектом, он рассеивается атомами объекта, и каждый атом генерирует волны рассеяния. Эти волны интерферируют друг с другом, что приводит к дифракции. Суперпозиция дифракционных волн приводит к увеличению интенсивности лучей в одних направлениях и уменьшению в других. Анализируя результаты дифракции, можно получить кристаллическую структуру. Вышеизложенное представляет собой важное научное предсказание, сделанное немецким физиком М. фон Лауэ в 1912 г., которое сразу же было подтверждено экспериментами. В 1913 году британские физики У. Х. Брэгг и У. Л. Брэгг, основываясь на открытии Лауэ,
Для кристаллических материалов, когда испытуемый кристалл находится под другим углом к падающему лучу, будут обнаружены те кристаллические плоскости, которые соответствуют брэгговской дифракции, что отражается на рентгенограмме в виде дифракционных пиков с различной интенсивностью дифракции. Для аморфных материалов, поскольку в кристаллической структуре нет дальнего порядка расположения атомов, но имеется ближний порядок в пределах нескольких атомных диапазонов, рентгеновский спектр аморфных материалов представляет собой некоторые пики Манту диффузного рассеяния.
Рентгеновский дифрактометр использует принцип дифракции для точного определения кристаллической структуры, текстуры и напряжения веществ, а также для точного выполнения фазового, качественного и количественного анализа. Широко используется в таких областях, как металлургия, нефть, химическое машиностроение, научные исследования, аэрокосмическая промышленность, обучение, производство материалов и т. д.。
